產(chǎn)品詳情

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產(chǎn)品名稱：絕緣電阻劣化離子遷移評(píng)估系統(tǒng)
產(chǎn)品型號(hào)：
產(chǎn)品廠商：華測(cè)
產(chǎn)品價(jià)格：0
折扣價(jià)格：0
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簡(jiǎn)單介紹：

華測(cè)儀器生產(chǎn)的電子材料測(cè)量離子遷移評(píng)估系統(tǒng)是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備。它通過(guò)在印刷電路板上施加固定的直流電壓，并經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試，觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生，并記錄電阻值的變化狀況，從而評(píng)估絕緣材料的劣化程度和離子遷移現(xiàn)象的影響。

詳情介紹：

電子材料測(cè)量離子遷移評(píng)估系統(tǒng)

產(chǎn)品參數(shù)

測(cè)量電壓:100 ~ 1500V（可定制）

測(cè)試通道:128通道（可定制至高960通道）

測(cè)試時(shí)長(zhǎng):可連續(xù)運(yùn)行1500小時(shí)

測(cè)試溫度:85℃（可定制）

測(cè)試濕度:85%（可定制）

測(cè)量范圍:1×10^5 ~ 1×10^15Ω

極化電壓:100 ~ 1500V（可定制）

掃描周期:至快2分鐘（128通道）

環(huán)境試驗(yàn)箱（可定制）

恒溫試驗(yàn)箱

型號(hào)：HC-80

溫度范圍：RT~＋100℃

內(nèi)部容積（L）：80

型號(hào)：HC~512

溫度范圍：RT~＋200℃

內(nèi)部容積（L）：512

迷你高低溫環(huán)境箱

支持覆蓋超低溫范圍的較寬溫度范圍(-40℃/-70℃)至高溫范圍(+100℃/+150℃)。具備超溫保護(hù)切斷加熱斷路器功能。

型號(hào)：HC-35

溫度范圍：-40~＋100℃

內(nèi)部容積( L)：35

型號(hào)：HC-70

溫度范圍：-70~＋200℃

內(nèi)部容積（L）：70

應(yīng)用領(lǐng)域

電子材料：印BGA、CSP等精細(xì)節(jié)距IC封裝件；

封裝材料：助焊劑、印刷電路板、光刻膠、釬料、樹脂、導(dǎo)電膠等有關(guān)印刷電路板、高密度封裝的材料；

有機(jī)半導(dǎo)體：PPV、NDI、OFETs、OSCs、OLEDs等；

電子元器件：電容、連接器等其他電子元器件及材料；

絕緣材料：各種絕緣材料的吸濕性特性評(píng)估。

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產(chǎn)品名稱：絕緣電阻劣化離子遷移評(píng)估系統(tǒng)

電子材料測(cè)量離子遷移評(píng)估系統(tǒng)

產(chǎn)品參數(shù)

應(yīng)用領(lǐng)域